- 電線電纜行業(yè)
- 冷熱臺(tái)系列
-
新品推薦
-
高壓直流電導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)
-
多功能任意波高壓薄膜極化...
-
真空晶圓退火爐
-
變頻電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電...
-
多通道電流矩陣模塊
-
高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流...
-
壓電材料 應(yīng)變測(cè)試儀
-
表面電位衰減系統(tǒng)
-
高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流...
-
絕緣電阻劣化(離子遷移)...
-
長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
高壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
絕緣電阻率測(cè)試儀
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
高壓直流電導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)
- 靜電系列
- 脈沖發(fā)生器
-
功能材料系列
-
壓電陶瓷強(qiáng)場(chǎng)介電性能分析...
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
-
高溫介電溫譜測(cè)試儀
-
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系...
-
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀
-
高低溫冷熱臺(tái)
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
閉孔溫度破膜溫度測(cè)試儀
-
鋰離子電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試...
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
壓電系數(shù)測(cè)試儀
-
探針臺(tái)
-
高壓薄膜極化裝置
-
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
阻抗分析儀
-
電介質(zhì)充放電系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
高溫絕緣電阻測(cè)試儀
-
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
-
壓電陶瓷強(qiáng)場(chǎng)介電性能分析...
- 功率放大器系列
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
-
工程塑料絕緣材料系列
-
多通道電流矩陣模塊
-
半導(dǎo)體高低溫絕緣電阻測(cè)試...
-
HCVD系列電阻分壓器
-
VD系列高壓探頭
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
真空電熱老化測(cè)試系統(tǒng)
-
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
-
絕緣材料測(cè)試儀器
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)...
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化(離子遷移)...
-
變溫極化耐擊穿測(cè)試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測(cè)試儀
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測(cè)試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
多通道電流矩陣模塊
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
MEMS微納器件高低溫真空探針臺(tái)
參數(shù)規(guī)格
腔體
真空度:10??torr
探針臂接口:至多6個(gè)探針臂接口
溫度范圍:77K ~ 450K 、4.5K ~ 450K
溫度分辨率:0.1K / 0.01K / 0.001K
穩(wěn)定性:±1K / ±0.1K / ±0.01K
技術(shù)參數(shù)
平面度:0.05mm/m2
平臺(tái)尺寸(長(zhǎng)寬):可定制
平臺(tái)厚度:50/100/200mm
支撐腿數(shù)量:4只/6只
應(yīng)用領(lǐng)域
1.研發(fā)階段:材料與器件的極限性能探索
在新型半導(dǎo)體材料(如鈣鈦礦、氧化鎵)的研發(fā)中,晶圓測(cè)試高低溫真空探針臺(tái)可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料在真空、高溫或低溫條件下的載流子遷移率、擊穿電壓等參數(shù),為材料優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐
2.失效分析:準(zhǔn)確定位故障(失效)原因
通過(guò)微區(qū)探針掃描技術(shù),配合SEM或FIB聯(lián)用,可對(duì)芯片的短路、漏電等故障點(diǎn)進(jìn)行亞微米級(jí)定位,鎖定制造工藝中的故障環(huán)節(jié)
3.量產(chǎn)前驗(yàn)證:增加良率與可靠性
在晶圓出廠前,晶圓測(cè)試高低溫真空探針臺(tái)可對(duì)成千上萬(wàn)個(gè)微結(jié)構(gòu)進(jìn)行自動(dòng)化批量測(cè)試(如接觸電阻、絕緣性能),結(jié)合AI算法實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù),提前篩除次品,降低下游封測(cè)成本
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.
