功能薄膜表面電位衰減測試系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

表面電位衰減測試系統(tǒng)是一款面向材料電學(xué)特性研究的高準(zhǔn)度、多功能分析設(shè)備，為評估介質(zhì)材料表面電荷動態(tài)衰減行為及陷阱能級分布而設(shè)計，集高壓極化、準(zhǔn)確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環(huán)境下的材料電荷動態(tài)響應(yīng)，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領(lǐng)域的研發(fā)與質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持

應(yīng)用領(lǐng)域

絕緣材料研發(fā)

評估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性

功能薄膜分析

研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應(yīng)

半導(dǎo)體器件優(yōu)化

表征柵極介質(zhì)層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性

科研與教育

高校及實驗室用于電介質(zhì)物理、材料科學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究與教學(xué)實驗

電力設(shè)備質(zhì)檢

檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態(tài)及壽命預(yù)測

公司簡介

Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engaged in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.

The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.