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HCRD-300L系列電容器薄膜電弱點(diǎn)測試系統(tǒng)
華測儀器生產(chǎn)的HCRD-300L系列電容器薄膜電弱點(diǎn)測試系統(tǒng)(Electrical Weak Point Tester)是一種用于檢測薄膜、紙張、塑料、橡膠等絕緣材料中微小電弱點(diǎn)的設(shè)備。HCRD-300L系列電容器薄膜電弱點(diǎn)測試系統(tǒng)通過施加可控的高壓電場,識別材料中可能導(dǎo)致?lián)舸┗蚵╇姷谋∪觞c(diǎn),從而評估其絕緣性能是否達(dá)標(biāo)。
一、工作原理
電弱點(diǎn)試驗(yàn)的基本原理是:將被測樣品置于兩個(gè)電極之間,在特定電壓下進(jìn)行短時(shí)加壓。若樣品存在電弱點(diǎn)(即局部絕緣強(qiáng)度不足),則會(huì)在該位置發(fā)生瞬間擊穿,產(chǎn)生可檢測的電流并定位缺陷位置。
二、技術(shù)參數(shù)
型號:HCRD-300L系列
測試電壓:0~6kV (DC) 0~5kV(AC)
樣品寬度:50~650mm(可調(diào),支持整卷膜測試,無需分切) (也可按需定制)
電流范圍
:0 ~ 40 mA(連續(xù)可調(diào),擊穿閾值可設(shè))
保護(hù):
過壓、過流、短路自動(dòng)切斷
接地保護(hù)
雙系統(tǒng)互鎖
隔離屏蔽設(shè)計(jì)
TVS 瞬間電壓抑制技術(shù)
