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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
詳情介紹:
華測(cè)儀器 HCCT-40H 薄膜電容器溫度特性評(píng)估儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介HCCT-40H薄膜電容器溫度特性評(píng)估儀由華測(cè)儀器生產(chǎn),是將環(huán)境試驗(yàn)箱與儀器相結(jié)合,效率采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道測(cè)量?jī)x。
儀器自動(dòng)評(píng)估測(cè)量高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性和電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù),從而評(píng)估其溫度特性;該儀器穩(wěn)定可靠,通道數(shù)量多,具有多種測(cè)試模式,多種可選夾具,適用于包括多層陶瓷電容器(MLCC)、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01 至多64個(gè)通道的自動(dòng)測(cè)量
設(shè)備可以測(cè)量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z),可選擇8個(gè)通道的倍數(shù),至多64個(gè)通道。
02 圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果
設(shè)備可收集測(cè)試的數(shù)據(jù),包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率,可以通過(guò)各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。
03 可從不同測(cè)試模式選擇
設(shè)備可選擇不同的測(cè)試模式:溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn),且可以與溫度特性評(píng)價(jià)測(cè)試或恒定運(yùn)行測(cè)試相合。
溫度特性評(píng)估測(cè)試:在此測(cè)試模式下,自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度變化同步,頻率步數(shù)201步(范圍可定制)。
持續(xù)運(yùn)行測(cè)試:測(cè)試模式測(cè)量參數(shù)的變化隨時(shí)間推移自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。
頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn):試驗(yàn)?zāi)J皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí),自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。
04 多種可選夾具 適用于不同的試驗(yàn)樣本
除了SMD組件的專用夾具外,系統(tǒng)還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具,也可定制環(huán)境試驗(yàn)箱。

