高低溫介電溫譜測(cè)試儀

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1.在樣品上濺射一層導(dǎo)電材質(zhì)，減少空間及雜散電容的影響；

2.采用參比樣品的方式進(jìn)行測(cè)量，樣品的溫度就是材料真實(shí)溫度。解決高溫環(huán)境下測(cè)量導(dǎo)線阻抗影響及內(nèi)部障蔽

3.采用阻抗更匹配的測(cè)量導(dǎo)線；

4.縮短測(cè)量導(dǎo)線；

5.采用平行板法測(cè)量。

6.采用了直流加熱方式進(jìn)行加熱，同時(shí)加入濾波等方式減少電網(wǎng)諧波在測(cè)量過(guò)程中的影響。

參數(shù)規(guī)格

溫控參數(shù)

溫度范圍：-185℃ ~ 600℃（負(fù)溫需配液氮制冷系統(tǒng)） 

傳感器/溫控方式：100Ω鉑RTD / PID控制（含LVDC降噪電源） 

加熱/制冷速度：+80℃/min （100℃時(shí)），-50℃/min （100℃時(shí)） 

加熱/制冷精度：±0.25℃

溫度分辨率：0.01℃ 

溫度穩(wěn)定性：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃） 

軟件功能：可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線

電學(xué)參數(shù)

探針：默認(rèn)為錸鎢材質(zhì)的彎針探針 *可選其他種類電極 

探針座：杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性好 

點(diǎn)針：手動(dòng)點(diǎn)針，每個(gè)探針座都可點(diǎn)到樣品區(qū)上任意位置 

探針接口：默認(rèn)為BNC接頭，可選三同軸接口* 可增設(shè)腔內(nèi)接線柱（樣品接電引線） 

樣品臺(tái)面電位：默認(rèn)為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口 

非磁性改造：臺(tái)體可改用非磁性材質(zhì)制造，用于變溫霍爾效應(yīng)探針測(cè)試

光學(xué)參數(shù)

適用光路：反射光路 

窗片：可拆卸與更替的窗片 

物鏡工作距離：8.5 mm 

透光孔：臺(tái)面默認(rèn)無(wú)通光孔，可增設(shè)通光孔以支持透射光路 

上蓋窗片觀察：窗片范圍φ38mm，視角±60.7° 

負(fù)溫下窗片除霜：真空

結(jié)構(gòu)參數(shù)

加熱區(qū)/樣品區(qū)：? 30 mm 

樣品腔高：6.3 mm *樣品厚度由探針決定 

放樣：打開上蓋后置入樣品再點(diǎn)針，關(guān)上蓋后無(wú)法移動(dòng)探針 

氣氛控制：氣密腔，可充入保護(hù)氣體 *另有真空腔型號(hào) 

外殼冷卻：可通循環(huán)水，以維持外殼溫度在常溫附近 

安裝方式：水平安裝 或 垂直安裝 

臺(tái)體尺寸/重量：210 mm x 180 mm x 50 mm / 2000g

測(cè)試功能（測(cè)試曲線）

介電溫譜（頻譜） 高溫絕緣電阻（體積電阻率） 熱釋電 TSDC

可擴(kuò)展部件（常見儀表）

高阻計(jì) 數(shù)字源表 高壓電源（進(jìn)行高壓下TSDC測(cè)量） 高低溫介電溫譜測(cè)量

應(yīng)用領(lǐng)域

材料科學(xué)與工程

電子與半導(dǎo)體行業(yè)

新能源與汽車工業(yè)

ensive laboratory for materials and electricity was established with Tianjin University to carry out scientific research on materials and electricity.