多參數電學性能綜合測定儀
多參數電學性能綜合測定儀
產品簡介
絕緣電阻功能材料電學綜合測試系統由華測儀器生產,是一款為科研、材料開發、工業生產等領域設計的測試系統,功能材料電學綜合測試系統集成了測量技術、自動化控制技術和效率高的數據分析算法,評估各類功能材料的電學性能,可用于功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試,為材料科學家、工程師和研究人員提供測試支持
產品優勢
擴展優勢
本套系統可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試,以及高、低溫環境下的電學測試。與電學檢測儀器在通訊協議、數據庫處理和軟件兼容性上做了大量的接口,易于擴展,節省改造時間與硬件成本
性能優勢
保護:增加TVS保護過壓、過流、過溫等技術,更加可靠
軟件:在測試功能、數據處理、操作等更加人性化方面做了大量的改進
測量:與其它儀器做了大量的測試對標,與計量院通力合作;進行檢測計量,確保數據的真實性
研發優勢
研發團隊擁有多領域、多學科的博士、碩士技術人員,自成立以來獲多方科研機構、大學試驗室支待,組建 “華測儀器顧問團”
定制化服務
電學試驗室擁有泰克、是德科技等大批檢測設備;生產制造方面,公司有4軸、5軸CNC加工地等一大批生產、加工設備,在工裝、夾具定制化方面更加方便
測試模塊
1.鐵電參數測試功能
動態電滯回線測試頻率
靜態電滯回錢測試
脈沖測試
疲勞測試
保持力
印跡
漏電流測試
變溫測試功能
2.絕緣電阻測試功能
高準確度的電壓輸出與電流測量,確保測試的品質,適用于功能材料在高溫環境材料的數據的檢測。例如:陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母也可做為科研院所新新材料的高溫絕緣電阻的性能測試
3.壓電參數測試功能
可進行壓電陶瓷的唯靜態d33等參數測試,也可通過高壓放均由位移傳感器(如勘怪 干涉儀)動態法測量壓電系數測量
4.高溫四探針測試功能
符合功能材料導體、半導體材料與其他新材料在高溫環境下測試多樣化的需求。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準及A.S.T.M,也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途
5.熱釋電測試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數、剩余極化強度對溫度和時間的曲線
薄膜材料變溫范圍:-196℃~+600℃
塊體材料變溫范圍:RT~200℃、RT ~600℃、RT~800°C
6.介電溫譜測試功能
用于分析寬頻、高低溫環境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量,同時還可以分析被測樣晶隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線
7.塞貝克系數/電阻測量系統
適用于半導體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據用戶需求配置薄膜測量選件,低溫選件溫度范圍-100℃ ~200℃,高阻選件高至10MΩ
8.電卡效應測試功能
可以用于測試材料,在寬溫度范圍內的電卡性能
溫度范圍:-50℃~200℃;
熱流時間范圍:1s-1000s;
電壓可達10kV;
波形:用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形
9.熱激發極化電流測試儀TSDC
用于研究功能材料性能的一些關鍵因素,諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間等相關的介電特性
應用領域
鐵電材料、電子陶瓷、熱釋電、薄膜、科學研究、材料開發、工業生產以及器件測試電子、電氣、能源等行業
