高溫壓電系數(shù)測試儀
高溫壓電系數(shù)測試儀
產(chǎn)品介紹
高溫壓電系數(shù)測試儀采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，華測儀器基于弱信號采集技術(shù)的優(yōu)勢，設(shè)計了一款用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)測試儀器，相對傳統(tǒng)的d33測量儀測量精度效果好，測量量程范圍寬，可靠性提升，操作便捷
該儀器可以分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可應(yīng)用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試
產(chǎn)品特點
1、采用主流FPGA設(shè)計，實現(xiàn)30Hz~140Hz寬范圍測量
2、采用高阻放電荷放大器，減小測量過程中的損耗
3、采用直流線性加熱，減少渦流加熱噪聲
4、采用真空電極避免絕緣支架帶來的熱釋電電荷
產(chǎn)品參數(shù)
儀器參數(shù)
測試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz~140Hz
精度：±0.1Hz
測試載荷：靜態(tài)力10N
振蕩測試載荷：0.05N~0.5N可調(diào)
電容測量范圍：10pF~0.1μF
精度：±2%±1pF
溫度范圍：RT~650℃
加熱方式：PID控制
溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（＞25℃）；±0.1℃（＜25℃）
軟件功能：可設(shè)溫控速率、可設(shè)溫控程序、可記錄溫控曲線
電性能參數(shù)
100到10000pC/N
精度：±2%±1pC/N；負載：1.0μF
10到1000 pC/N
精度：±2%±1 pC/N；負載：1.0μF
1到100 pC/N
精度：±2%±0.1 pC/N；負載：01.0μF
0到10 pC/N
精度：±2%±0.01 pC/N；負載：0.1μF
