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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:金屬化電容電薄弱點(diǎn)綜合測(cè)量?jī)x

  • 產(chǎn)品型號(hào):HCRD-300L系列
  • 產(chǎn)品廠商:華測(cè)儀器
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
電容器用聚脂薄膜PET電弱點(diǎn)測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn),主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試,該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試,測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無(wú)須將膜分切成小卷,免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
詳情介紹:

金屬化電容電薄弱點(diǎn)綜合測(cè)量?jī)x

參數(shù)規(guī)格
可放置卷芯長(zhǎng)度:30~1800mm
試驗(yàn)電壓精度:≤2%
厚度范圍:450mm
產(chǎn)品移動(dòng)速度:3-10m/min連續(xù)可調(diào)
操作系統(tǒng)
操作系統(tǒng):支持XP,win7,win8系統(tǒng),操作人性化
實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè):在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中可以動(dòng)態(tài)顯示電弱點(diǎn)數(shù)量、膜移動(dòng)距離等
數(shù)據(jù)導(dǎo)出:試驗(yàn)結(jié)果方便導(dǎo)出
實(shí)驗(yàn)報(bào)告:自定義報(bào)告名稱,并對(duì)實(shí)驗(yàn)報(bào)告進(jìn)行打印
試驗(yàn)方式:直流試驗(yàn)和交流試驗(yàn)、進(jìn)行選擇
參數(shù)設(shè)置:可以根據(jù)不同的試驗(yàn)方式及試驗(yàn)方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值
校準(zhǔn)功能:可針對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)設(shè)置
支持標(biāo)準(zhǔn):支持國(guó)標(biāo)及IEC標(biāo)準(zhǔn)
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engaged in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.

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