SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。

絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響

應(yīng)用領(lǐng)域

電子材料：印BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料

半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估

公司簡介

Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engaged in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.

The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.