鐵電薄膜用多參數(shù)測試系統(tǒng) 

產(chǎn)品簡介

鐵電薄膜用多參數(shù)測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測試電壓范圍，可應(yīng)用于鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器等研究。在±10V的內(nèi)置電壓下，電滯回線測試頻率可達(dá)1MHz。還可通過外接的功率放大器模塊將電壓升到50V~50kV

內(nèi)置HuacePro測試軟件，具有自動數(shù)據(jù)顯示、算法分析和實(shí)時(shí)參數(shù)提取功能,操作友好使用便捷，在不改變樣品連接的情況下就可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV和CV測試等，可選配件也可實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC、電介質(zhì)充放電、介電溫譜、高低溫電阻等測量功能

測試功能（可選）

動態(tài)電滯回線測量-DHM

泄漏電流測量-LM

CV測量-CVM

疲勞測量-FM

保持力測量-RM

印跡測量-IM

脈沖測量-PM

靜態(tài)電滯回線測量-SHM

擊穿電壓測量-BDM

壓電測量-PZM

熱釋電測量-PYM

熱刺激測量-TSDC

介電溫譜測量-DTS

高低溫電阻測量-TIR

充放電測試-ESD

產(chǎn)品參數(shù)

輸出范圍：±10V（內(nèi)置放大器±200V）

輸出頻率上限：1MHz（±10V），100kHz（±200V）

輸出電流上限：20mA（±10V），100mA（±200V）

輸出：16位任意波形發(fā)生器輸出

準(zhǔn)確性：0.5%或更高

脈沖寬度(PUND)下限：100ns

上升時(shí)間下限：100ns

脈沖寬度(PUND)上限：1s

區(qū)域分辨率上限：52.6mC

電滯回線頻率范圍 ：1mHz ~ 1MHz

模擬輸入通道:高可達(dá)50MS/s，±10V(16位)

測試電容范圍上限:1nF(與測試頻率有關(guān))

輸出阻抗:10Ω

輸出：16位任意波形發(fā)生器輸出

可外接高壓放大器 （可外接20kV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4kV，10kV，20kV

應(yīng)用領(lǐng)域

主要應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域，?特別是電子材料電特性參數(shù)的測量，研究和測試材料的電性能

可選配件

塊體變溫測試盒

電極可調(diào)行程上限：不小于3mm，分辨率0.01mm

測試樣品上限：直徑小于30mm

溫度范圍：RT~250℃

試驗(yàn)電壓上限：±10kV

應(yīng)用：可配合激光干涉儀進(jìn)行應(yīng)變測量

薄膜變溫探針臺

溫控范圍：RT~400℃

應(yīng)用：可用于薄膜和厚膜材料的鐵電性能測試

激光干涉儀

頻率范圍：0~2.5 MHz

激光波長：1310 nm

位移分辨率：0.01 nm

速度上限：＜4.5 m/s

公司介紹

Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engaged in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.